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數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打?。?GXF-215C

簡要描述:
數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差 ≤±2.5%FS
重復(fù)性誤差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
長期漂移 ≤±2.5%FS。

產(chǎn)品時間:2020-09-03

訪問量:1184

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:

數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 

性能特點
?精度高,穩(wěn)定性好。
?檢測元件具有恒溫環(huán)境保證了儀器高穩(wěn)定性,并使儀器更快的進入到正常工作狀態(tài),減小了機內(nèi)外溫度變化對其穩(wěn)定性的影響。
?儀器在不工作時自動待機,有效的保護了光源,延長了光源的使用壽命。
?經(jīng)濟耐用,可以在現(xiàn)場長期連續(xù)運行。
造型新穎美觀,使用操作方便

數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差 ≤±2.5%FS
重復(fù)性誤差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
長期漂移 ≤±2.5%FS

 

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